YITE启动PCIE 6.0测试配件以录取OCP NCOS 3.0接口

在本文中的任命：面对快速计算机应用程序的验证挑战的持续增加，YITE最近宣布将推出该行业的OCP 3.0 PCIE GEN6测试配件，同时提供完整的测试解决方案，该解决方案将帮助客户利用新一代数据传输市场的计划。图片的描述是行业的领导者，并为PCIE 6.0 YITE启动测试配件和解决方案，观察到，人工智能（AI）和高性能计算（HPC）的快速普及继续扩大数据中心的规模，以及对AI模型培训的渠道传输速度和带宽的需求也大大提高。使用X86体系结构，录取PCIE 6.0技术（外围组件Internectionscos的快速频道），甚至具有低成本和高性能Chara的武器架构Ceristics可以接一个地监视一个。为了帮助客户提前满足未来的验证需求，YITE已完成了PCIE 6.0非标准接口测试的独立开发。它不仅符合外围组件（PCI-SIG）互连标准协会（PCI-SIG）制定的带宽标准，而且还可以个性化承认各种高速传输应用程序方案并为其客户提供最完整的验证支持。 Yite在2025年第一季度完成了OCP测试配件NIC 3.0 PCIE GEN6的开发，并于第二季度正式开始大规模生产。附件符合阻抗和损失控制方面的关联标准，并根据PCI-SIG验证过程完成了测试。 PCI-SIG验证过程确实可以介绍正在测试的对象的信号性能。带有几个接口的测试配件，例如EDSFF 1C/2C，M.2启动以扩大其应用程序的范围。 “我们很高兴地宣布，我们是一个很好的服务来源，” YETE信号测试总监Wang Shangjie说。 “目前，一些客户已提出了OCP IAS 3.0 PCIE GEN6的测试需求。它在那里。我们提供了完整的PCIE 6.0验证解决方案，以提前学习市场规格，在其高级应用OCP 3.0界面中获得潜在客户，以开发其客户的YETE，投资于2024年和Ether pcie 6.0 and Ether的PROFFROVER的开发（可以）（可以）6.0 and Ethert（Ether）。 2025年，我们将与合作伙伴合作开发设备，以保证产品的质量，并降低风险成本的发展风险。